統計機率分配與品質管制

📝 歷屆考古題

• 108年 高考申論題 第一題
  5000 片晶片不良品個數。
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• 108年 高考申論題 第二題
  圓周率小數點後的數值。
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• 108年 高考申論題 第三題
  每個晶片上的缺點數。
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• 108年 高考申論題 第四題
  樂透每期開獎中獎數字的個數。
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• 108年 高考申論題 第五題
  晶片檢驗線上，檢驗出第二個不良品所需總檢驗數。
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• 106年 高考申論題 第一題
  品管圖上每次檢驗就將相關之統計量填入品管圖之 y 軸上。檢驗出第 1 個落在品管圖上下限外之值所需之總檢驗次數。
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• 106年 高考申論題 第一題
  傳統將此兩張品管圖命名為何？（提示：可能的選擇為(a)p-chart, (b)np-chart, (c)c-chart, (d)u-chart）（10 分）
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• 106年 高考申論題 第二題
  一個晶片之厚度。
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• 106年 高考申論題 第二題
  說明 y 軸的統計量 $\hat{\theta}$ 在 2 張圖中用何種機率分配模型來描述較適當？說明理由。（20 分）
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• 106年 高考申論題 第三題
  10 個晶片中不良的晶片數（每個晶片只分兩種：良片與不良片）。
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• 106年 高考申論題 第四題
  晶片檢驗線上，檢驗出第 2 個不良品所需總檢驗次數。
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